Os Laboratórios em Eletrônica de Potência (LEPO) da Unicamp, teve um novo artigo publicado na prestigiada revista IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, uma das principais publicações internacionais na área de confiabilidade de dispositivos e sistemas eletrônicos.

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O trabalho, intitulado “A Comparative Analysis of the Reliability of DC Bus Capacitor Technologies in Photovoltaic Inverters”, apresenta uma análise comparativa entre tecnologias de capacitores utilizadas em inversores fotovoltaicos, discutindo os principais fatores que impactam a durabilidade e a confiabilidade desses componentes essenciais para sistemas de energia solar.

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O estudo tem como autores  os pesquisadores Andressa Mara Menezes Alexandre, Paulo Soares Filho, Bruna Aderbal de Oliveira, João Pedro Carvalho Silveira, Pedro José dos Santos Neto e Tárcio André dos Santos Barros, todos vinculados ao LEPO-Unicamp.

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O artigo completo pode ser acessado em:
https://ieeexplore.ieee.org/document/11214242